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| 品牌 | Hitachi/日立 |
|---|
X-RAY射線牛津儀器OXFORD鍍層測厚儀
產地：英國 型號：MAXXI 5 品牌：牛津儀器OXFORD
MAXXI 5主要技術規格如下：
No. 主要規格 規格描述
1 激發系統 垂直從上至下照式光學系統
牛津原產空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
標準靶材： W
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準
功率可編程控制
裝備有安全防射線光閘
2 截譜技術 提供*的元素截譜技術，可分辨出相憐元素的信號，如Cu/Ni等元素，無需配置濾光片，從而達到優化信號強度的功能。
3 準直器程控交換系統 zui多可同時裝配4種規格的準直器，程序切換控制
多種規格尺寸準直器任選：0.3mm 或0.5mm或多準直器系統
-0.06 x 0.06mm, 0.05 x 0.15mm, 0.1mm,0.2mm Ø
4 測量斑點尺寸 在35mm聚焦距離時，zui大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)
5 X射線探測系統 封氣正比計數器
裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路
6 樣品室
－樣品室結構 開槽式樣品室
－樣品臺尺寸 500mm x600mm（手動臺） 300mm x250mm（自動臺）
－XY軸程控移動范圍 標準：300 x 250mm
－Z軸程控移動高度 170mm 程控平臺， 170mm
手動平臺， 350mm
－XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
－樣品觀察系統 高分辨、彩色、實時CCD觀察系統，標準放大倍數為20倍。
激光輔助定位功能
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能（選配）
光學自動聚焦功能
7 計算機系統配置 德國隨主機配置電腦主機，配置不低于2048道連續近處理ADC（數模轉換器），計算機壓縮為512個通道。臺式或直立式機箱電腦*的中央處理器，例如IN Pentium or AMD Athlon。HDD, DVD-ROM, RAM,鍵盤，鼠標
8 分析應用軟件 操作系統：Windows7.0中文平臺
分析軟件包：X-MasteR FP軟件包
－無標樣分析程序 Fun- MasteR
應用程序向導。在無標樣情況下使用基本參數法生成厚度測量應用。簡單，三步模式創建一個新的應用，無需使用標準樣品。避免大量，昂貴的厚度標準片。
－測厚范圍 可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。不同元素不同應用設備Fun-MasteR提示厚度測試范圍
－基本分析功能 無標樣檢量線測厚，可采用一點或多點標準樣品自動進行基本參數方法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。
樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
可檢測元素范圍：Ti22 – U92
可同時測定5層/20種元素/共存元素校正
組成分析時，可同時測定20種元素
貴金屬檢測，如Au karat評價（選配）
材料和合金元素分析
材料鑒別和分類檢測（選配）
液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量（選配）
元素光譜定性分析
－調整和校正功能 系統自動調整和校正功能：校正X射線管、探測器和電子線路的變化對分析結果的影響，自動消除系統漂移
譜峰計數時，峰漂移自動校正功能
譜峰死時間自動校正功能
譜峰脈沖堆積自動剔除功能
標準樣品和實測樣品間，密度校正功能
譜峰重疊剝離和峰形擬合計算
－測量自動化功能 鼠標激活測量模式：“Point and Shoot”
多點自動測量模式：多點順序和重復測量模式
自動對焦功能
－樣品臺程控功能 可通過鼠標或是遙控桿控制XYZ軸，可通過XYZ-Stage設定多
點測試程序。
－統計計算功能 平均值、標準偏差、相對標準偏差、zui大值、zui小值、數據變動范圍、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖
數據庫存儲功能，可存儲帶樣品圖像的Word報告，模板客戶可自定義。
任選軟件：統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書
－系統安全監測功能 Z軸保護傳感器
樣品室門開閉傳感器
操作系統多級密碼操作系統：操作員、工程師
吳生：151九零一九4078
X-RAY射線牛津儀器OXFORD鍍層測厚儀
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